会社は分析検査実験室を設立しており、豊富な技術力、専門的な人材チーム、先進的で完備した設備及び完備した品質管理システムを持っており、全面的で高品質で高効率な検査サービスを提供している。

実験室には現在60台余りの半導体材料検査設備があり、四探針抵抗率測定器、フーリエ赤外酸素炭素含有量測定器、X線方位測定器、表面光電圧測定器、高周波光伝導測定器、全反射蛍光分光測定器、誘導結合プラズマ質量分析器、レーザー粒子測定器などを含む。検査範囲は結晶欠陥、結晶構造、化学組成、電気性能、幾何精度など半導体材料を特徴づける各種の重要なパラメーターをカバーする。

実験室は長期的に対外的に企業と科学研究院にテストと標準サンプル調製サービスを提供している。